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涂層測厚儀
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菲尼克斯phynix Surfix S、Surfix basic S膜厚儀
Surfix basic S可換探頭統計型測厚儀 膜厚計品牌:菲尼克斯 型號:basic S 產地:德國1.可換8種碳化鎢超耐磨測頭測鐵基和有色金屬基上鍍層和涂層2.分辨率0.1μm3.根據所選探頭:精度可達±0.7μm+1%,讀數或范圍可達10mm4.探頭需另選購
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